Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.snu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/3204
Title: Дослідження методів тестопридатності та їх застосування
Authors: Кардашук, В.С.
Руденко, М.С.
Keywords: Boundary Scan
тестування
тестопридатне проектування
моделювання
несправність
Issue Date: 2019
Publisher: СНУ ім. В. Даля
Citation: Кардашук В.С. Дослідження методів тестопридатності та їх застосування / В. С. Кардашук, М. С. Руденко // Наукові вісті Далівського університету : електронне наукове фахове видання. – 2019. – №17. - DOI: https://doi.org/10.33216/2222-3428-2019-17-7
Abstract: Розглядаються існуючі методи аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалі. Розглянуто проблеми, які вирішуються за допомоги методів тестопридатнього проектування електронних пристроїв. Означено галузь використання показників тестопридатності, отриманих на високих рівнях опису цифрових пристроїв. Надаються рекомендації щодо тестопридатного проектування, скорочення часу тестування пристрою та підвищення якості тесту на основі технології граничного сканування (Boundary Scan). За результатами даного дослідження пропонується стратегія вибору контрольних точок для модифікації комбінаційної схеми при тестуванні. Визначаються основні проблеми тестового діагностування та тестопридатнього проектування на сьогоднішній день. Зазначено найбільш відомі засоби аналізу тестопридатності для комбінаційних схем. Оглянуто Методи підвищення тестопридатності цифрової системи. Проаналізовано використання стандарту IEEE 1149.1 Boundary Scan. Розглянуто проблему усунення існуючої надмірності вихідних ліній. Оглянуто проблему підвищення якості тесту. Проаналізовано існуючі правила та методики визначення ліній, що мають низьку оцінку тестуємості, керуємості та спостерігаємості. Означено проблему з'єднання переваги згаданого стандарту з відомими методами генерації тестів і аналізу їх якості. Наголошено на проблемі отримання тесту для перевірки заданих несправностей. Надано графік залежності, що ілюструє функцію переваги при фіксованій повноті тесту. Розглянуто короткий опис завдань, які є похідними тривимірного функціоналу. Надано таблицю згаданого функціоналу. Проведено структурний аналіз схеми. Розглянуто формули для обчислення значення керованості, спостережливості і тестопридатності для кожної лінії схеми. В ході роботи було проведено аналіз моделей, методів та алгоритмів тестопридатнього проектування та їх реалізації для цифрових обчислювальних систем в цілях подальшої модифікації пристроїв для підвищення відсотку покриття несправностей, означено задачі подальшого дослідження
URI: http://dspace.snu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/3204
Appears in Collections:№ 17

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
9.pdf352,51 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.