Рязанцев, О. І.Жученко, Є. В.Кардашук, В. С.Кравцов, С. В.2026-04-222026-04-222025Структурний алгоритм пошуку дефектів з використанням сигнатурного аналізатора / Рязанцев О. І., Жученко Є. В., Кардашук В. С., Кравцов С. В. Наукові вісті Далівського університету. 2025. №29.https://doi.org/10.33216/2222-3428-2025-29-4https://dspace.snu.edu.ua/handle/123456789/2779У статті проведено дослідження методу діагностики пошуку дефектів на основі сигнатурного аналізу для перевірки та тестування функціонування цифрових схем. Застосування методів на основі сигнатурного аналізу при їх практичній реалізацій не вимагає значних зусиль та досвіду від обслуговуючого персоналу. Невеликі габарити приладів, побудованих на основі сигнатурного аналізу, роблять їх застосування легким в освоєнні та експлуатації на відміну від складних стаціонарних приладів. Перевагою застосування приладів на основі сигнатурного аналізу є невеликі габарити, мінімальне живлення, швидкодія, відсутність необхідності попереднього налаштування, можливість роботи у «польових» умовах. Робота сигнатурного аналізатора не залежить від вибору алгоритму, а ґрунтується тільки на сигнатурі еталону, що дає змогу скоротити кількість перевірок та підвищити продуктивність при масовому тестування виробів. Наведена модель сигнатурного аналізатора в програмі Multisim 14.3 показує простоту реалізації пристрою з мінімальною кількість схемотехнічних елементів. Для проведення моделювання застосований генератор цифрових сигналів, 8-ми бітний регістр зсуву, логічний елемент додавання по модулю 2 та індикатори, що відображають отриману сигнатуру в шістнадцятирозрядному коді. Як варіант модернізації сигнатурного аналізатора, замість логічного елемента додавання по модулю 2 пропонується використання програмованої логічного мікросхеми ATF22V10B фірми Microchip, що спростить схемну реалізацію цього вузла. В розглянутій моделі мікропроцесорної системи для перевірки правильності функціонування для визначення одиничних та нульових значень на повному наборі вхідних впливів проведена в програмі Multisim 14.3. При проведенні тестової послідовності отримані значення відображаються на індикаторах. Побудовані тестові пливи для перевірки константних несправностей та алгоритмів дедуктивного моделювання дозволяє виявити дефекти схем вентильного логічного рівня або універсальних базисів. Застосування для перевірки великих інтегральних схем за допомогою багатоканальних цифрових аналізаторів є проблематичним, оскільки велика кількість контактів не дозволяє підключитись безпосередньо до мікросхеми.ukсигнатурний аналіздіагностикатестова послідовністьмоделюванняаналізаторінтегральна схемаArticle004.94