Дослідження методів тестопридатності та їх застосування.
| dc.contributor.author | Кардашук, В. С. | |
| dc.contributor.author | Руденко, М. С. | |
| dc.date.accessioned | 2025-03-04T13:09:37Z | |
| dc.date.available | 2025-03-04T13:09:37Z | |
| dc.date.issued | 2019 | |
| dc.description.abstract | Розглядаються існуючі методи аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалі. Розглянуто проблеми, які вирішуються за допомоги методів тестопридатнього проектування електронних пристроїв. Означено галузь використання показників тестопридатності, отриманих на високих рівнях опису цифрових пристроїв. Надаються рекомендації щодо тестопридатного проектування, скорочення часу тестування пристрою та підвищення якості тесту на основі технології граничного сканування (Boundary Scan). За результатами даного дослідження пропонується стратегія вибору контрольних точок для модифікації комбінаційної схеми при тестуванні. Визначаються основні проблеми тестового діагностування та тестопридатнього проектування на сьогоднішній день. Зазначено найбільш відомі засоби аналізу тестопридатності для комбінаційних схем. Оглянуто Методи підвищення тестопридатності цифрової системи. Проаналізовано використання стандарту IEEE 1149.1 Boundary Scan. Розглянуто проблему усунення існуючої надмірності вихідних ліній. Оглянуто проблему підвищення якості тесту. Проаналізовано існуючі правила та методики визначення ліній, що мають низьку оцінку тестуємості, керуємості та спостерігаємості. Означено проблему з'єднання переваги згаданого стандарту з відомими методами генерації тестів і аналізу їх якості. Наголошено на проблемі отримання тесту для перевірки заданих несправностей. Надано графік залежності, що ілюструє функцію переваги при фіксованій повноті тесту. Розглянуто короткий опис завдань, які є похідними тривимірного функціоналу. Надано таблицю згаданого функціоналу. Проведено структурний аналіз схеми. Розглянуто формули для обчислення значення керованості, спостережливості і тестопридатності для кожної лінії схеми. В ході роботи було проведено аналіз моделей, методів та алгоритмів тестопридатнього проектування та їх реалізації для цифрових обчислювальних систем в цілях подальшої модифікації пристроїв для підвищення відсотку покриття несправностей, означено задачі подальшого дослідження. | |
| dc.identifier.citation | Кардашук В. С., Руденко М. С. Дослідження методів тестопридатності та їх застосування. Наукові вісті Далівського університету. 2019. № 17. | |
| dc.identifier.udc | 004.054 | |
| dc.identifier.uri | https://dspace.snu.edu.ua/handle/123456789/1908 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | СНУ ім. В. Даля | |
| dc.subject | Boundary Scan | |
| dc.subject | тестування | |
| dc.subject | тестопридатне проектування | |
| dc.subject | моделювання | |
| dc.subject | несправність | |
| dc.title | Дослідження методів тестопридатності та їх застосування. | |
| dc.type | Article |
Files
Original bundle
License bundle
1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
- Name:
- license.txt
- Size:
- 4.73 KB
- Format:
- Item-specific license agreed to upon submission
- Description: